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簡要描述：導熱系數(shù)熱阻測試儀(熱流法)主要測試薄的熱導體、導熱硅膠片、導熱樹脂、氧化鈹瓷、氧化鋁瓷等細小材料的熱阻以及固體界面處的接觸熱阻和材料的導熱系數(shù)。檢測材料一般為固態(tài)片狀，如加圍框也可檢測粉狀態(tài)材料及膏狀材料。儀器具有自動加壓，自動測厚，全電腦自動測量控制功能。
產(chǎn)品型號：TDRL-V型廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時間：2026-01-24訪 問 量：169詳細介紹
| 品牌 | 天棋星子 | 應用領域 | 化工,農(nóng)林牧漁,地礦,建材/家具,道路/軌道/船舶 |
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產(chǎn)品概述
導熱系數(shù)熱阻測試儀(熱流法)主要測試薄的熱導體、導熱硅膠片、導熱樹脂、氧化鈹瓷、氧化鋁瓷等細小材料的熱阻以及固體界面處的接觸熱阻和材料的導熱系數(shù)。檢測材料一般為固態(tài)片狀，如加圍框也可檢測粉狀態(tài)材料及膏狀材料。儀器具有自動加壓，自動測厚，全電腦自動測量控制功能。
參考標準
MIL-I-49456A(絕緣片材、導熱樹脂、熱導玻纖增強);GB5598-2015(氧化鈹瓷導熱系數(shù)測定方法棒軸法);ASTMD5470-12(薄的熱導性固體電絕緣材料傳熱性能的測試標準)、GB/T38712-2020(chao薄玻璃導熱系數(shù)實驗方法熱流法)、GB/T29313-2012電氣絕緣材料熱傳導性能試驗方法等。
產(chǎn)品優(yōu)勢
測試頭內(nèi)測試桿周圍增加了防護熱裝置(此裝置可對試樣進行熱防護)，拓展了儀器測試溫度范圍，減小了環(huán)境溫度對測試的影響。
測試頭內(nèi)測試桿上增加熱流測試的溫差熱電偶堆，提高了熱流測試分辨率、準確性和重復性。
取消了冰水混合物對熱電偶冷端補償，簡化了操作，方便了使用。
增加了"老化可靠性測試"、"高導熱材料測試"、"試樣間接觸熱阻測試"等實驗方法。
TDRL-3和TDRL-5儀器可廣泛應用于大中院校，科研單位，質(zhì)檢部門和生產(chǎn)廠的材料熱分析檢測。
| 技術參數(shù) | 儀器型號TDRL-5 |
| 1、溫度范圍 | 1.20一80℃(熱極:室溫一100.00℃:冷極:0一80.00℃(恒溫槽))2.20一140C(熱極:室溫一200.00℃;冷極:0一80.00℃(恒溫槽)) 3.20一190℃(熱極:室溫一300.00℃:冷極:0一80.00℃(恒溫槽)) 4.100一260℃(熱極:120.00一300.00℃:冷極:80.00一240.00℃(溫控)) 5.-20一80℃(熱極:室溫一100.00℃:冷極:-40.00一60.00℃(恒溫槽)) 6.40一260℃(熱極:室溫一500.00℃:冷極:0一80.00℃(恒溫槽)) 說明:溫度范圍指測試樣品平均溫度(熱面和冷面)，熱面溫度比熱極稍低、冷面比冷極稍高，需按實驗要求選其中一項。 |
| 2、導熱系數(shù) |
2.高導模式:5~500W/mk(配高導測試模塊) |
| 3、熱阻范圍 | 0.05~500 (cm2*k/w) |
4、測試精度 | 1.熱阻測試:10~500cm2k/w，誤差≤3%;0.05~10cm2k/w，誤差≤5% 2.導熱系數(shù)測試:0.1~5W/mk，誤差3%;5~500W/mk，誤差≤5% 3.接觸熱阻測試:誤差≤5% 4.鋁基板(復合板材)熱阻測試:誤差≤5%±0.1 |
5、測試頭尺寸 | 1.φ30mm(試樣尺寸以此為例): 2.φ50mm(可選) |
| 6、試樣尺寸 | 1. 0.1~5W/mk或10~500cm2k/w:φ30X(0.2~5)mm，厚度可疊層 2. 5~45W/mk或2~10cm2k/w:(φ20~φ30)X(0.2~15)mm 3. 5~500W/m*k,(φ10~φ30)x(15~30)mm(高導模式) 4. 鋁基板:15X15(mm) 說明:此試樣尺寸為基本尺寸，詳細制樣尺寸參閱下述說明。 |
| 7、壓力測量 | 0~1000.0N |
儀器配置:TDRL-5導熱系數(shù)測試儀主機1臺;測試軟件(含通信接口)1套;恒溫槽(恒溫水槽或恒溫油槽按所選溫度規(guī)格配置)及其控制器1套;臺式電腦1臺(可需方自備)。
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